SPECTRUMTEQ-EQY-EL
電致發(fā)光測(cè)試系統(tǒng)
同光致發(fā)光方案一致,電致發(fā)光測(cè)試系統(tǒng)以模塊化思路設(shè)計(jì),特別適合手套箱內(nèi)使用,使用業(yè)內(nèi)旗艦級(jí)光譜儀,能夠進(jìn)行準(zhǔn)確的量子效率,亮度,色度等測(cè)量,真正的實(shí)現(xiàn)了制備和測(cè)試同時(shí)進(jìn)行。EL測(cè)試方案共有兩種配置,分別適配不同的樣品形貌,器件亮度和測(cè)試需求。搭配源表和軟件,可以對(duì)器件進(jìn)行更精確的四點(diǎn)法測(cè)量。
方案一:集成化程度高,適配無線遙控自動(dòng)化測(cè)試,3.3寸積分球更適合高亮度樣品,可以根據(jù)器件定制專用夾具,且能進(jìn)行PL擴(kuò)展。
方案二:高靈活度探針臺(tái)方案,單點(diǎn)測(cè)試,小體積異形樣品均適用,1.5寸積分球,可以測(cè)試低亮度樣品,安裝方便,小巧靈活。
可定制化方案:可以適配不同尺寸結(jié)構(gòu)的器件和積分球,定制系統(tǒng)或特殊夾具,以滿足特殊的測(cè)試需求。
產(chǎn)品參數(shù)
產(chǎn)品下載
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