一、雜散光的重要性

雜散光是紫外可見分光光度計非常重要的關鍵技術指標。它是紫外可見分光光度計分析誤差的主要來源，它直接限制被分析測試樣品濃度的上限。當一臺紫外可見分光光度計的雜散光一定時，被分析的試樣濃度越大，其分析誤差就越大。ASTM 認為：“雜散光可能是光譜測量中主要誤差的來源。尤其對高濃度的分析測試時，雜散光更加重要”。有文獻報道，在紫外可見光區的吸收光譜分析中，若儀器有1%的雜散光，則對2. 0A的樣品測試時，會引起2%的分析誤差。

二、雜散光的定義及理論推導

（一）雜散光的定義

目前, 國際上對雜散光的定義各異。下面介紹幾種比較簡潔的雜散光的定義。

ASTM 的定義

美國的ASTM對雜散光定義是：雜散光既難給出確切的定義，又難進行準確的測量。人們常將雜散光定義為在單色器額定通帶之外的透射輻射能量與總的透射能量之比。

Richard 的定義

日本的Richard等對雜散光的定義是：雜散光通常定義為假輻射（Spurious Radiation）和所需要的輻射（Desired Radiation）之比。

Winstead的定義

美國的Winstead對雜散光的定義是：如果波長出現與儀器刻度盤（或顯示）上的示值不同，那么這個外界的能量就叫做雜散光。

M. R. Sharpe的定義

美國的M. R. Sharpe把雜散光定義為：光譜帶寬以外“不要的”光通量的成分叫雜散光。

上述四者的定義都是對的。但太繁瑣，概念上不容易被人理解。筆者認為，應該從概念出發，從雜散光測試的角度出發，從便于建立雜散光測量方法的角度出發，可以更簡單的對雜散光下定義為：“不應該有光的地方有光， 這就是雜散光”。這種定義，便于從概念或定義出發，直觀的建立簡單可靠的測試設備。

三、雜散光對儀器分析測試誤差的影響

雜散光對紫外可見分光光度計分析測試誤差的影響可分成兩種形式：一種形式是雜散光的波長與測試波長相同。它是由于測試波長因為某些原因而偏離正常光路，在不通過試樣的情況下，直接照射到光電轉換器上。這種雜散光大多數是由于光學元件、機械零件的反射和漫射所引起，可以通過一個對測試波長不透明的樣品來檢查。當發現放在比色皿中的不透明樣品的透射比不為零時，說明儀器中有這種雜散光存在。但必須注意，當儀器存在零點誤差時，有可能造成混淆。如果在不透明的樣品上涂上白色，則可增加樣品本身反射和散射的效果，可以提高測量靈敏度。第二種形式是指測試波長以外的、偏離正常光路而到達光電轉換器的光線。它通常是由光學系統的某些缺陷所引起的。如光學元件的表面被擦傷、儀器的光學系統設計不好、機械零部件加工不良，使光路位置錯移等。